METROTOM系統(tǒng)
在此之前不能檢測(cè)或者只能通過(guò)耗費(fèi)時(shí)間和成本的接口進(jìn)行檢測(cè)的場(chǎng)合，現(xiàn)在用斷層掃描分析可以快速明確地檢測(cè)出誤差。
測(cè)量技術(shù)的革命
Metrotomography融合了計(jì)量學(xué)和層析X射線攝影法，開創(chuàng)了不可預(yù)期的可能性。在此之前只能檢測(cè)或根本不能進(jìn)行質(zhì)量保證的場(chǎng)合，現(xiàn)在可以進(jìn)行高精度和無(wú)損測(cè)量。
斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測(cè)量：所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進(jìn)行評(píng)估。無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，例如：裝配檢查，損傷和氣孔分析，材料檢驗(yàn)或損壞檢查，如同測(cè)量評(píng)估，逆向工程應(yīng)用或幾何比較一樣。
重要特征
METROTOM采用了深思熟慮的設(shè)計(jì)，它的3D計(jì)算機(jī)斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測(cè)器，同時(shí)還裝備了用于裝夾工件的轉(zhuǎn)臺(tái)和Zeiss的移動(dòng)系統(tǒng)。METROTOM還具有安全技術(shù)。其擁有全防護(hù)的測(cè)量間，并且符合DIN 54113標(biāo)準(zhǔn)的用于結(jié)構(gòu)類型許可全封閉儀器的防護(hù)射線條例(0.5mr/h在外罩)。同時(shí)，機(jī)器是基于人機(jī)工程學(xué)優(yōu)化設(shè)計(jì)的（專用的上料位置）。
ZEISS旋轉(zhuǎn)臺(tái)，配有直接驅(qū)動(dòng) 高敏感性的探測(cè)系統(tǒng)
久經(jīng)考驗(yàn)的線性技術(shù)
自加工的精密機(jī)械組件
導(dǎo)軌誤差補(bǔ)償（CAA計(jì)算機(jī)輔助精度修正）
Zeiss原裝旋轉(zhuǎn)臺(tái)，配有直接驅(qū)動(dòng)
自產(chǎn)的氣浮軸承
分辨率：0.036˝
最大負(fù)載（中心）：500N
傳感器：微焦源X射線管
高電壓：10 – 225 keV
電子管電流：5 – 3000 μA
目標(biāo)功率：320 W max.
反射角：50°錐角
有功發(fā)射角：30°錐角
焦點(diǎn)尺寸：> 7 μm平板式探測(cè)器
帶有高敏感性的探測(cè)系統(tǒng)
1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三維CT
數(shù)字式無(wú)線電復(fù)制，形象逼真
